Pool MAN- Geräte
Integriertes konfokales und interferometrisches MikroskopEinsatzgebietBerührungsfreie 3D-Messung von Oberflächentopografie, Verschleißvolumen und RauheitsparameternFunktionsweiseKonfokal: Messkopf verfährt in vertikaler Richtung und nimmt für jeden Messpunkt die Intensitätskurve als Funktion des Verfahrweges auf; aus der punktweisen Lage der Maxima wird ein dreidimensionales Oberflächenbild erzeugt; interferometrisch: Mirau-Objektive besitzen einen internen Referenzspiegel, welcher den primären Lichtstrahl aufteilt und bei Zusammenführung am Detektor ein Interferenzsignal als Funktion des Abstandes zur Oberfläche erzeugtUntersuchungsaussagestatistische Oberflächenparameter wie z.B. Profil, Rauheit, Welligkeit, Verschleißvolumen 2- und 3-dimensionale Visualisierung der MessdatenZiel der AnalyseAnalyse und Beurteilung von Oberflächen; Messgenauigkeit im MikrometerbereichTechnische SpezifikationKonfokal-Objektive: 10x (1270x 50 µm); 20x (636x 77 µm); 50x (254x 90 µm); 100x (127x95 µm); interferometrische Objektive Typ Mirau: 10x, 50x; Heften von Einzelbildern möglich; vertikale Auflösung bis in den einstelligen NanometerbereichAnsprechpersonTomastik, Christian DI |  Integriertes konfokales und interferometrisches Mikroskop |
Fokusvariations MikroskopEinsatzgebietBerührungsfreie 3D-Messung von Oberflächentopografie, Verschleißvolumen und RauheitsparameternFunktionsweiseBerechnung eines Schärfe-Wertes jedes Pixels durch Vergleich des Kontrastes zu Nachbarpixeln; der Messkopf verfährt in vertikaler Richtung und ermittelt den Schärfeverlauf als Funktion des Verfahrweges; aus der punkweisen Lage der Maxima wird ein dreidimensionales Bild der Oberfläche erzeugtUntersuchungsaussagestatistische Oberflächenparameter wie z.B. genormte 2D- bzw. 3D-Rauheitsparameter, Verschleißvolumen, sowie 2- und 3-dimensionale Visualisierung der MessdatenZiel der AnalyseAnalyse und Beurteilung von Oberflächen; Messgenauigkeit im MikrometerbereichTechnische SpezifikationObjektive: 5x (2,82x2,82 mm); 10x (1,62x1,62 mm); Heften von Einzelbildern möglich; geringe Messzeiten (ebene Probe: 5 cm² in rund 15 min); vertikale Auflösung bis in den hohen dreistelligen NanometerbereichProbenanforderungnicht transparent Rauheit: Ra > 500 nm; Probenabmessungen: < 200x200x200 mm; Gewicht < 30 kgAnsprechpersonTomastik, Christian DI |  Topografiemessgerät InfinitFocus G5 |
3D-Profilometer (konfokal chromatischer sensor)EinsatzgebietBerührungsfreie 3D-Messung von Oberflächentopografie und Rauheitsparametern; mobil und in Industrie-Umgebung einsetzbarFunktionsweiseWeißes Licht wird durch Linsengruppen in verschiedene Spektren aufgespalten und auf die Probe gelenkt; Abstandsabhängig (Linsengruppe - Probe) befindet sich ein Spektrum in Fokusdistanz (Ausnutzen der chromatischen Aberration); der Sensor misst das reflektierte Spektrum und berechnet aus dem Maximum der wellenlängenabhängigen Intensitätsverteilung den Probenabstand; durch zeilen- und spaltenweises Abrastern der Probe wird ein dreidimensionales Bild der Oberfläche erzeugtUntersuchungsaussagestatistische Oberflächenparameter wie z.B. genormte 2D- bzw. 3D-Rauheitsparameter, Verschleißvolumen, sowie 2- und 3-dimensionale Visualisierung der MessdatenZiel der AnalyseAnalyse und Beurteilung von Oberflächen; Messgenauigkeit im Nanometerbereich; Messen der Schichtdicke einer transparenten SchichtTechnische SpezifikationSensoren: OP1 (Messbereich: 3,0 mm, vertikale Auflösung: 40 nm) und OP2 (Messbereich: 300 µm, vertikale Auflösung: 5,7 nm); Gewicht: 5,5 kg; Dimensionen: 20x30x17 cm³; xy-Verfahrweg: 25 mmProbenanforderungReflektivitätAnsprechpersonTomastik, Christian DI |  3D profilometer |
AuflichtmikroskopEinsatzgebietMikroskopische Untersuchung von Proben (25x - 1000x Vergrößerung)FunktionsweiseMikroskop mit digitaler Bildverarbeitung und motorisiertem xyz-TischUntersuchungsaussageDarstellung von 2-dimensionalen Strukturen, wie Schichten und MikrostrukturZiel der AnalyseBeurteilung von Werkstoffen und Werkstoffgefügen; Verschleißflächen- (Topographie- und Phasen-aufgelöst) und Strukturanalyse; Dokumentation von Rissen und PorenTechnische SpezifikationVergrößerung: 25 - 1000x; Hell- und Dunkelfeld; Polarisationsfilter; Interferenzkontrastfilter; motorisierter xyz-TischProbenanforderungHöhe: < 6 cm; ebener Untergrund oder eingebettet; Gewicht: < 500 gAnsprechpersonPremauer, Markus |  Auflichtmikroskop |
StereomikroskopEinsatzgebietMikroskopische Untersuchung mit räumlicher DarstellungFunktionsweiseMikroskop mit digitaler BildverarbeitungUntersuchungsaussageDarstellung von 3-dimensionalen Strukturen, wie verschlissene Bauteiloberflächen und BruchflächenZiel der AnalyseIdentifikation von Oberflächenfehlern, Rissen und Bruchflächen; Erstbeurteilung der VerschleißflächenTechnische SpezifikationVergrößerung: 7 - 115xProbenanforderungdurch eine stufenlos verstellbare Objektiveinheit gibt es kaum Einschränkungen an die ProbengeometrieAnsprechpersonPremauer, Markus |  Stereomikroskop |
Tribo-/NanoindenterEinsatzgebietInstrumentierte Messung der mechanischen Eigenschaften bei kleinsten LastenFunktionsweiseHärte, E-Modul und viskoelastische Eigenschaften können bei kleinsten Lasten [µN - mN] bestimmt werden; Ritztests, Bestimmung des Reibverhaltens, RSMUntersuchungsaussagemechanische Eigenschaften wie Härte, E-Modul, Reib- und Verschleißverhalten und Bestimmung viskoelastischer EigenschaftenZiel der Analysemechanische Charakterisierung von Werkstoffen, Ausscheidungen und (dünnen) SchichtenTechnische SpezifikationLastbereich: 1 µN - 10 mN; vertikale Auflösung: < 1 nm; laterale Auflösung RSM: 100 nmProbenanforderungDiskussion erforderlichAnsprechpersonTomastik, Christian DI |  Tribo-/Nanoindenter |
RitztesterEinsatzgebietBestimmung von Schichthaftung und -ermüdung; Furchungsverhalten von Materialien auf planparallelen und gekrümmten OberflächenFunktionsweiseEine Spitze (Eindringkörper) wird unter Belastung über eine Oberfläche bewegt (Ritzvorgang), dabei werden die Ritzkräfte und akustischen Emissionen aufgezeichnet, welche mit dem Verschleißverhalten korreliert werdenUntersuchungsaussageBestimmung von Schichthaftung und -ermüdung dünner Schichten; Furchungsverhalten von Materialien; Identifikation kritischer Ritzenergien, angelehnt an die Normen EN 1071, ASTM C1624, ASTM G171Ziel der AnalyseCharakterisierung von Oberflächen gegen Ritzen; Bestimmung des Anhaftens von BeschichtungenTechnische SpezifikationLastbereich: 10 - 100 N; variable Geschwindigkeiten 1 mm/s - 50 mm/s; beliebige Lastrampen entlang des Ritzes; reversierende Ritze zur Ermüdungsbelastung sind möglich; Rockwell-Eindringkörper: 50 µm - 200 µm; Kugel-Eindringkörper: d = 1,587 mmProbenanforderungProbenabmessungen: < 40x100 mm; Höhe: < 15 mm; Oberfläche fein geschliffen oder poliertAnsprechpersonPremauer, Markus |  Ritztester |
Hochtemperatur-Ritz- und HärtetesterEinsatzgebietMessung der Härte (HV, HB) und Durchführung von Ritztests bis 1000 °C; Messung der Härte bei der Anwendungstemperatur des WerkstoffsFunktionsweiseHärteprüfung nach Vickers mit 2 - 50 kg Prüflast; Ritztests mit 10 - 500 N Normallast; 1 mm/min - 10 mm/s Geschwindigkeit; austauschbare Ritzkörper; benutzerspezifische Werkstoffe sind möglich; Beheizung der Proben bis 1000 °C, automatisierte Messung von Härte-Temperaturkurven oder Ritz-SerienUntersuchungsaussageHärte bei der Anwendungstemperatur des Werkstoffes als Maß für die Verschleißbeständigkeit; Ritztests geben Information über den Verschleißwiderstand unter spezifischen Last/Geschwindigkeit/Temperatur-BedingungenZiel der AnalyseBestimmung der Härte und des Ritzwiderstandes; Ermittlung kritischer Einsatztemperaturen und mechanischer Belastungskollektive eines WerkstoffesTechnische SpezifikationHochtemperaturprüfungen im Vakuum; Testtemperatur: RT - 1000 °C; Testlast: 10 - 500 N; Ritzgeschwindigkeit: 1 - 10 mm/s, Atmosphäre: Umgebung, Vakuum (5 mbar)ProbenanforderungProbenabmessungen: 68 x 30 x10 mm; planparallel; Prüffläche poliert (Härtemessungen) oder geschliffen (Ritztests)AnsprechpersonVarga, Markus |  Hochtemperatur-Ritz- und Härtetester |
Mikro-HärteprüferEinsatzgebietMessung von Mikrohärte mit 1 - 1000 g PrüflastFunktionsweiseHärteprüfung nach VickersUntersuchungsaussageHärtebestimmung einzelner Gefügebestandteile; HärteverläufeZiel der AnalyseBestimmung der Härte (zentraler mechanischer Materialparameter, welcher wesentlich die tribologischen Eigenschaften beeinflusst)Technische SpezifikationLastbereich: 1 - 1000 gProbenanforderungplanparallele Probe; polierte OberflächeAnsprechpersonPremauer, Markus |  Mikro-Härteprüfer |
WarmhärteprüfstandEinsatzgebietBestimmung der Härte von insbesondere metallischen Werkstoffen bei Temperaturen zwischen Raumtemperatur und 800 °CUntersuchungsaussagemechanische Eigenschaften bei unterschiedlichen TemperaturenZiel der AnalyseBestimmung der Härte bei unterschiedlichen BauteiltemperaturenAnsprechpersonTörök, Árpád |  Warmhärteprüfstand |
Makro-HärteprüferEinsatzgebietMessung der Härte mit 1 - 50 kg PrüflastFunktionsweiseHärteprüfung nach Vickers, Brinell oder RockwellUntersuchungsaussageHärte als mechanischer Widerstand, den ein Werkstoff der mechanischen Eindringung eines härteren Prüfkörpers entgegensetztZiel der AnalyseBestimmung der Härte (zentraler mechanischer Materialparameter, welcher wesentlich die tribologischen Eigenschaften beeinflusst)Technische SpezifikationLastbereich: 1 - 50 kgProbenanforderungebene Messfläche; fein geschliffenAnsprechpersonPremauer, Markus |  Makro-Härteprüfer |
Schleif- und PolierautomatEinsatzgebietMaterialographische ProbenpräparationFunktionsweiseDie Proben können mittels unterschiedlicher Schleifstufen und Körnungen von 80 bis 4.000 geschliffen werden und anschließen mit Poliertüchern von 12 µm bis 0,25 µm poliert werdenZiel der AnalysePräparation von VersuchsmusternTechnische Spezifikationvollautomatische und manuelle PräparationAnsprechpersonTschirk, Werner Ing. |  Schleif- und Poliermaschine |
Warm-EinbettpresseEinsatzgebietMaterialographische ProbenpräparationFunktionsweiseDie Proben werden auf einen Zylinder positioniert, welcher danach mit einem Kunststoffgranulat befüllt wird und unter Druck und 180 °C geschmolzen wirdZiel der AnalysePräparation von VersuchsmusternTechnische SpezifikationProbendurchmesser: 25 mm und 40 mmAnsprechpersonPremauer, MarkusTschirk, Werner Ing. |  Warm-Einbettpresse |
Präzisions-TrennmaschineEinsatzgebietMaterialographische ProbenpräparationFunktionsweisezielgenaue Schnitte sind mit einer Trennscheibendicke von 0,6 mm möglichZiel der AnalysePräparation von VersuchsmusternTechnische SpezifikationDrehzahl: 300 - 5000 U/minProbenanforderungProbenabmessungen: < 150x100x70 mm; Gewicht < 5 kgAnsprechpersonPremauer, MarkusTschirk, Werner Ing. |  Präzisions-Trennmaschine |