Pool MAN-Geräte
Integriertes konfokales und interferometrisches Mikroskop
Einsatzgebiet
Berührungsfreie 3D-Messung von Oberflächentopografie, Verschleißvolumen und Rauheitsparametern
Funktionsweise
Konfokal: Messkopf verfährt in vertikaler Richtung und nimmt für jeden Messpunkt die Intensitätskurve als Funktion des Verfahrweges auf; aus der punktweisen Lage der Maxima wird ein dreidimensionales Oberflächenbild erzeugt; interferometrisch: Mirau-Objektive besitzen einen internen Referenzspiegel, welcher den primären Lichtstrahl aufteilt und bei Zusammenführung am Detektor ein Interferenzsignal als Funktion des Abstandes zur Oberfläche erzeugt
Untersuchungsaussage
statistische Oberflächenparameter wie z.B. Profil, Rauheit, Welligkeit, Verschleißvolumen 2- und 3-dimensionale Visualisierung der Messdaten
Ziel der Analyse
Analyse und Beurteilung von Oberflächen; Messgenauigkeit im Mikrometerbereich
Technische Spezifikation
Konfokal-Objektive: 10x (1270x 50 µm); 20x (636x 77 µm); 50x (254x 90 µm); 100x (127x95 µm); interferometrische Objektive Typ Mirau: 10x, 50x; Heften von Einzelbildern möglich; vertikale Auflösung bis in den einstelligen Nanometerbereich

Ansprechperson
KHMELEVSKA Tetyana
Fokusvariations Mikroskop
Einsatzgebiet
Berührungsfreie 3D-Messung von Oberflächentopografie, Verschleißvolumen und Rauheitsparametern
Funktionsweise
Berechnung eines Schärfe-Wertes jedes Pixels durch Vergleich des Kontrastes zu Nachbarpixeln; der Messkopf verfährt in vertikaler Richtung und ermittelt den Schärfeverlauf als Funktion des Verfahrweges; aus der punkweisen Lage der Maxima wird ein dreidimensionales Bild der Oberfläche erzeugt
Untersuchungsaussage
statistische Oberflächenparameter wie z.B. genormte 2D- bzw. 3D-Rauheitsparameter, Verschleißvolumen, sowie 2- und 3-dimensionale Visualisierung der Messdaten
Ziel der Analyse
Analyse und Beurteilung von Oberflächen; Messgenauigkeit im Mikrometerbereich
Technische Spezifikation
Objektive: 5x (2,82x2,82 mm); 10x (1,62x1,62 mm); Heften von Einzelbildern möglich; geringe Messzeiten (ebene Probe: 5 cm² in rund 15 min); vertikale Auflösung bis in den hohen dreistelligen Nanometerbereich
Probenanforderung
nicht transparent Rauheit: Ra > 500 nm; Probenabmessungen: < 200x200x200 mm; Gewicht < 30 kg

Ansprechperson
KHMELEVSKA Tetyana
3D-Profilometer (konfokal chromatischer sensor)
Einsatzgebiet
Berührungsfreie 3D-Messung von Oberflächentopografie und Rauheitsparametern; mobil und in Industrie-Umgebung einsetzbar
Funktionsweise
Weißes Licht wird durch Linsengruppen in verschiedene Spektren aufgespalten und auf die Probe gelenkt; Abstandsabhängig (Linsengruppe - Probe) befindet sich ein Spektrum in Fokusdistanz (Ausnutzen der chromatischen Aberration); der Sensor misst das reflektierte Spektrum und berechnet aus dem Maximum der wellenlängenabhängigen Intensitätsverteilung den Probenabstand; durch zeilen- und spaltenweises Abrastern der Probe wird ein dreidimensionales Bild der Oberfläche erzeugt
Untersuchungsaussage
statistische Oberflächenparameter wie z.B. genormte 2D- bzw. 3D-Rauheitsparameter, Verschleißvolumen, sowie 2- und 3-dimensionale Visualisierung der Messdaten
Ziel der Analyse
Analyse und Beurteilung von Oberflächen; Messgenauigkeit im Nanometerbereich; Messen der Schichtdicke einer transparenten Schicht
Technische Spezifikation
Sensoren: OP1 (Messbereich: 3,0 mm, vertikale Auflösung: 40 nm) und OP2 (Messbereich: 300 µm, vertikale Auflösung: 5,7 nm); Gewicht: 5,5 kg; Dimensionen: 20x30x17 cm³; xy-Verfahrweg: 25 mm
Probenanforderung
Reflektivität

Ansprechperson
MIRANDA MEDINA Maria de Lourdes
TOMASTIK Christian
Auflichtmikroskop
Einsatzgebiet
Mikroskopische Untersuchung von Proben (25x - 1000x Vergrößerung)
Funktionsweise
Mikroskop mit digitaler Bildverarbeitung und motorisiertem xyz-Tisch
Untersuchungsaussage
Darstellung von 2-dimensionalen Strukturen, wie Schichten und Mikrostruktur
Ziel der Analyse
Beurteilung von Werkstoffen und Werkstoffgefügen; Verschleißflächen- (Topographie- und Phasen-aufgelöst) und Strukturanalyse; Dokumentation von Rissen und Poren
Technische Spezifikation
Vergrößerung: 25 - 1000x; Hell- und Dunkelfeld; Polarisationsfilter; Interferenzkontrastfilter; motorisierter xyz-Tisch
Probenanforderung
Höhe: < 6 cm; ebener Untergrund oder eingebettet; Gewicht: < 500 g

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Stereomikroskop
Einsatzgebiet
Mikroskopische Untersuchung mit räumlicher Darstellung
Funktionsweise
Mikroskop mit digitaler Bildverarbeitung
Untersuchungsaussage
Darstellung von 3-dimensionalen Strukturen, wie verschlissene Bauteiloberflächen und Bruchflächen
Ziel der Analyse
Identifikation von Oberflächenfehlern, Rissen und Bruchflächen; Erstbeurteilung der Verschleißflächen
Technische Spezifikation
Vergrößerung: 7 - 115x
Probenanforderung
durch eine stufenlos verstellbare Objektiveinheit gibt es kaum Einschränkungen an die Probengeometrie

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Tribo-/Nanoindenter
Einsatzgebiet
Instrumentierte Messung der mechanischen Eigenschaften bei kleinsten Lasten
Funktionsweise
Härte, E-Modul und viskoelastische Eigenschaften können bei kleinsten Lasten [µN - mN] bestimmt werden; Ritztests, Bestimmung des Reibverhaltens, RSM
Untersuchungsaussage
mechanische Eigenschaften wie Härte, E-Modul, Reib- und Verschleißverhalten und Bestimmung viskoelastischer Eigenschaften
Ziel der Analyse
mechanische Charakterisierung von Werkstoffen, Ausscheidungen und (dünnen) Schichten
Technische Spezifikation
Lastbereich: 1 µN - 10 mN; vertikale Auflösung: < 1 nm; laterale Auflösung RSM: 100 nm
Probenanforderung
Diskussion erforderlich

Ansprechperson
ROJACZ Harald
TOMASTIK Christian
Ritztester
Einsatzgebiet
Bestimmung von Schichthaftung und -ermüdung; Furchungsverhalten von Materialien auf planparallelen und gekrümmten Oberflächen
Funktionsweise
Eine Spitze (Eindringkörper) wird unter Belastung über eine Oberfläche bewegt (Ritzvorgang), dabei werden die Ritzkräfte und akustischen Emissionen aufgezeichnet, welche mit dem Verschleißverhalten korreliert werden
Untersuchungsaussage
Bestimmung von Schichthaftung und -ermüdung dünner Schichten; Furchungsverhalten von Materialien; Identifikation kritischer Ritzenergien, angelehnt an die Normen EN 1071, ASTM C1624, ASTM G171
Ziel der Analyse
Charakterisierung von Oberflächen gegen Ritzen; Bestimmung des Anhaftens von Beschichtungen
Technische Spezifikation
Lastbereich: 10 - 100 N; variable Geschwindigkeiten 1 mm/s - 50 mm/s; beliebige Lastrampen entlang des Ritzes; reversierende Ritze zur Ermüdungsbelastung sind möglich; Rockwell-Eindringkörper: 50 µm - 200 µm; Kugel-Eindringkörper: d = 1,587 mm
Probenanforderung
Probenabmessungen: < 40x100 mm; Höhe: < 15 mm; Oberfläche fein geschliffen oder poliert

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Hochtemperatur-Ritz- und Härtetester
Einsatzgebiet
Messung der Härte (HV, HB) und Durchführung von Ritztests bis 1000 °C; Messung der Härte bei der Anwendungstemperatur des Werkstoffs
Funktionsweise
Härteprüfung nach Vickers mit 2 - 50 kg Prüflast; Ritztests mit 10 - 500 N Normallast; 1 mm/min - 10 mm/s Geschwindigkeit; austauschbare Ritzkörper; benutzerspezifische Werkstoffe sind möglich; Beheizung der Proben bis 1000 °C, automatisierte Messung von Härte-Temperaturkurven oder Ritz-Serien
Untersuchungsaussage
Härte bei der Anwendungstemperatur des Werkstoffes als Maß für die Verschleißbeständigkeit; Ritztests geben Information über den Verschleißwiderstand unter spezifischen Last/Geschwindigkeit/Temperatur-Bedingungen
Ziel der Analyse
Bestimmung der Härte und des Ritzwiderstandes; Ermittlung kritischer Einsatztemperaturen und mechanischer Belastungskollektive eines Werkstoffes
Technische Spezifikation
Hochtemperaturprüfungen im Vakuum; Testtemperatur: RT - 1000 °C; Testlast: 10 - 500 N; Ritzgeschwindigkeit: 1 - 10 mm/s, Atmosphäre: Umgebung, Vakuum (5 mbar)
Probenanforderung
Probenabmessungen: 68 x 30 x10 mm; planparallel; Prüffläche poliert (Härtemessungen) oder geschliffen (Ritztests)

Ansprechperson
VARGA Markus
Trennmaschine 2
Einsatzgebiet
Grobe Trennung von großen Proben
Ziel der Analyse
Präparation von Versuchsmustern

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Mikro-Härteprüfer
Einsatzgebiet
Messung von Mikrohärte mit 1 - 1000 g Prüflast
Funktionsweise
Härteprüfung nach Vickers
Untersuchungsaussage
Härtebestimmung einzelner Gefügebestandteile; Härteverläufe
Ziel der Analyse
Bestimmung der Härte (zentraler mechanischer Materialparameter, welcher wesentlich die tribologischen Eigenschaften beeinflusst)
Technische Spezifikation
Lastbereich: 1 - 1000 g
Probenanforderung
planparallele Probe; polierte Oberfläche

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Makro-Härteprüfer
Einsatzgebiet
Messung der Härte mit 1 - 50 kg Prüflast
Funktionsweise
Härteprüfung nach Vickers, Brinell oder Rockwell
Untersuchungsaussage
Härte als mechanischer Widerstand, den ein Werkstoff der mechanischen Eindringung eines härteren Prüfkörpers entgegensetzt
Ziel der Analyse
Bestimmung der Härte (zentraler mechanischer Materialparameter, welcher wesentlich die tribologischen Eigenschaften beeinflusst)
Technische Spezifikation
Lastbereich: 1 - 50 kg
Probenanforderung
ebene Messfläche; fein geschliffen

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Schleif- und Polierautomat
Einsatzgebiet
Metallographische Probenpräparation
Funktionsweise
Die Proben können mittels unterschiedlicher Schleifstufen und Körnungen von 80 bis 4.000 geschliffen werden und anschließen mit Poliertüchern von 12 µm bis 0,25 µm poliert werden
Ziel der Analyse
Präparation von Versuchsmustern
Technische Spezifikation
halbautomatische und manuelle Präparation

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Trennmaschine 3
Einsatzgebiet
Materialographische Probenpräparation
Funktionsweise
zielgenaue Schnitte sind mit einer Trennscheibendicke von 1,5mm möglichSerienschnitte bis zu 100mm sind durch automatisierten x-Tisch möglich
Ziel der Analyse
Präparation von Versuchsmustern
Technische Spezifikation
Drehzahl: 1500-3000 U/min
Probenanforderung
Probenabmessungen: <500x200x100mm, max ø119mm

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Warm-Einbettpresse
Einsatzgebiet
Materialographische Probenpräparation
Funktionsweise
Die Proben werden auf einen Zylinder positioniert, welcher danach mit einem Kunststoffgranulat befüllt wird und unter Druck und 80-180 °C geschmolzen wird
Ziel der Analyse
Präparation von Versuchsmustern
Technische Spezifikation
Probendurchmesser: 25 mm und 40 mm

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Rasterelektronenmikroskop JSM IT500
Einsatzgebiet
Rasterelektronenmikroskopie REMEnergiedispersive Röntgenspektroskopie EDSElektronenrückstreubeugung EBSD
Funktionsweise
Elektronen werden mittels einer Wolfram-Kathode auf die Probenoberfläche beschleunigt, interagieren mit dem vorliegenden Material und geben je nach Art des Detektors die Oberflächentopographie (Sekundärelektronen) oder den Materialkontrast (Rückstreuelektronen) wieder. Die dabei entstehende Röntgenstrahlung kann mittels Energiedispersiver Röntgenspektroskopie für die chemische Analyse genutzt werden. Rückgestreute Elektronen könnnen in Form von Beugungsmustern detektiert werden; sie geben Aufschluss über die Kristallographie einzelner Phasen in den Proben und deren Verformungszustand.
Untersuchungsaussage
Begutachtung und Bewertung von Oberflächen hinsichtich ihrer chemischen Zusammensetzung und/oder des Oberflächenzustandes (Verschleißcharakterisierung, Triboschichtbildung, Bruchflächenanalyse, etc.). Quantifizierung des tribologisch-induzierten Verformungszustandes und Werkstoffveränderungen in metallographischen Querschliffen mittels EBSD.
Ziel der Analyse
Hochauflösende Mikroskopie zur Detailanalyse (REM)Bestimmung der chemischen Zusammensetzung diverser Proben (EDS)Bestimmung der Art, Verteilung, Zusammensetzung und Zustand von Phasen in Werkstoffen (EBSD)
Technische Spezifikation
Wolfram-Kathode, vollautomatische StrahleinstellungBeschleunigungsspannung 0.3 - 30 kVProbenstrom 1 pA - 1 µAVakuum 10 - 650 PaVergrößerung 5 - 300000 x
Probenanforderung
Max. Probengröße ø200mm

Ansprechperson
PREMAUER Markus
ROJACZ Harald
Schleif- Polierautomat
Einsatzgebiet
Materialographische Probenpräparation
Funktionsweise
Die Proben können mittels unterschiedlicher Schleifstufen und Körnungen von 80 bis 4.000 geschliffen werden und anschließen mit Poliertüchern von 12 µm bis 0,25 µm poliert werden
Ziel der Analyse
Präparation von Versuchsmustern
Technische Spezifikation
vollautomatische und manuelle Präparation

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Präzisions-Trennmaschine 1
Einsatzgebiet
Materialographische Probenpräparation
Funktionsweise
zielgenaue Schnitte sind mit einer Trennscheibendicke von 0,8 mm möglich
Ziel der Analyse
Präparation von Versuchsmustern
Technische Spezifikation
Drehzahl: 300 - 5000 U/min
Probenanforderung
Probenabmessungen: < 150x100x70 mm; Gewicht < 5 kg

Ansprechperson
PREMAUER Markus
Rasterelektronenmikroskop JIB4700F
Einsatzgebiet
Rasterelektronenmikroskopie REMIonenfeinstrahlanlage FIBElektronenrückstreubeugung EBSDEnergie dispersive Röntgenspektren EDX
Funktionsweise
Elektronen werden mittels Feld-Emitter auf die Probenoberfläche beschleunigt, interagieren mit dem vorliegenden Material und geben je nach Art des Detektors die Oberflächentopographie (Sekundärelektronen) oder den Materialkontrast (Rückstreuelektronen) wieder. Die dabei entstehende Röntgenstrahlung kann mittels Energiedispersiver Röntgenspektroskopie für die chemische Analyse genutzt werden. Rückgestreute Elektronen könnnen in Form von Beugungsmustern detektiert werden; sie geben Aufschluss über die Kristallographie einzelner Phasen in den Proben und deren Verformungszustand.
Untersuchungsaussage
Begutachtung und Bewertung von Oberflächen hinsichtich ihrer chemischen Zusammensetzung und/oder des Oberflächenzustandes (Verschleißcharakterisierung, Triboschichtbildung, Bruchflächenanalyse, etc.). Quantifizierung des tribologisch-induzierten Verformungszustandes und Werkstoffveränderungen in metallographischen Querschliffen mittels EBSD.
Ziel der Analyse
Hochauflösende Mikroskopie zur Detailanalyse (REM)Bestimmung der chemischen Zusammensetzung diverser Proben (EDS)Bestimmung der Art, Verteilung, Zusammensetzung und Zustand von Phasen in Werkstoffen (EBSD)
Technische Spezifikation
REM: Feld-EmitterBeschleunigungsspannung 0,1 - 30kVProbenstrom 1pA - 300nAVergrößerung 20x-1.000000xFIB: Beschleunigungsspannung1-30kVProbenstrom 1pA - 90nAVergrößerung 100x-300.000x

Ansprechperson
PREMAUER Markus
ROJACZ Harald